000 00849nab a2200277u##4500
001 insp/275969
003 POUNB
005 20240110073050.0
008 131021u20109999xxu eng d
040 _aПОУНБ
041 _aeng
044 _aUS
100 1 _aInsel,T. R.
_qThomas R
_4aut
245 0 0 _aFaulty circuits
_cT. R. Insel
773 0 _tScientific American . - 2010. - Vol. 302 No. 4. - С. 28-35
_dNew York: Scientific American, Inc..- 2010
_wSA/2010/302/4
_02050578
_92154558
650 0 4 _aпсихічні стани і явища
650 0 4 _aдіагностика
650 0 4 _aдепресії
084 _a56.14
_2rubbk
942 _cARTICLE
090 _xH 99
991 _binsp
_c56.14/H99-723364
336 _atext
_btxt
_2rdacontent
337 _aunmediated
_bn
_2rdamedia
338 _asheet
_bnb
_2rdacarrier
999 _c2091070
_d2091070