000 01308nam a2200313u##4500
001 genk/56589
003 POUNB
005 20240110060232.0
020 _a9785948362007
_c191.36, тираж 1500
040 _aПОУНБ
_brus
041 _arus
044 _aRU
245 0 0 _aСканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения
_bучебное пособие для студентов вузов
_cМ. М. Криштал [и др.]
260 _aМ.
_bТехносфера
_c2009
300 _a207 с.
440 0 _aМир физики и техники
084 _a32.85
_2rubbk
700 1 _aКриштал,М. М.
_qМихаил Михайлович
_4aut
700 1 _aЯсников,И. С.
_qИгорь Станиславович
_4aut
700 1 _aПолунин,В. И.
_qВиктор Иванович
_4aut
700 1 _aФилатов,А. М.
_qАнатолий Михайлович
_4aut
942 _cBOOK
090 _xС 423
991 _bgenk
_c32.85/С 423-976197
336 _atext
_btxt
_2rdacontent
337 _aunmediated
_bn
_2rdamedia
338 _asheet
_bnb
_2rdacarrier
999 _c1801485
_d1801485