000 01207nam a2200289u##4500
001 genk/165314
003 POUNB
005 20240110050640.0
020 _c0.65, тираж 10000
040 _aПОУНБ
_brus
041 _arus
044 _aRU
100 1 _aПерельман,Б. Л.
_qБениамин Лазаревич
_4aut
245 0 0 _aМетоды испытаний и оборудование для контроля качества полупроводниковых приборов
_bучебник для студентов сред. спец. учеб. заведений
_cБ. Л. Перельман, В. Г. Сидоров
260 _aМ.
_bВысшая школа
_c1979
300 _a215 с.:
_bил.
440 0 _aПрофтехобразование
650 0 4 _aПолупроводниковые приборы
_xИспытание
700 1 _aСидоров,В. Г.
_qВладимир Григорьевич
_4aut
942 _cBOOK
090 _xП 27
991 _bgenk
_c6П2.151.8(075.1)/П 27-317319
336 _atext
_btxt
_2rdacontent
337 _aunmediated
_bn
_2rdamedia
338 _asheet
_bnb
_2rdacarrier
999 _c1744365
_d1744365
084 _a6П2.151.8(075.1)
_2tbk