000 | 01207nam a2200289u##4500 | ||
---|---|---|---|
001 | genk/165314 | ||
003 | POUNB | ||
005 | 20240110050640.0 | ||
020 | _c0.65, тираж 10000 | ||
040 |
_aПОУНБ _brus |
||
041 | _arus | ||
044 | _aRU | ||
100 | 1 |
_aПерельман,Б. Л. _qБениамин Лазаревич _4aut |
|
245 | 0 | 0 |
_aМетоды испытаний и оборудование для контроля качества полупроводниковых приборов _bучебник для студентов сред. спец. учеб. заведений _cБ. Л. Перельман, В. Г. Сидоров |
260 |
_aМ. _bВысшая школа _c1979 |
||
300 |
_a215 с.: _bил. |
||
440 | 0 | _aПрофтехобразование | |
650 | 0 | 4 |
_aПолупроводниковые приборы _xИспытание |
700 | 1 |
_aСидоров,В. Г. _qВладимир Григорьевич _4aut |
|
942 | _cBOOK | ||
090 | _xП 27 | ||
991 |
_bgenk _c6П2.151.8(075.1)/П 27-317319 |
||
336 |
_atext _btxt _2rdacontent |
||
337 |
_aunmediated _bn _2rdamedia |
||
338 |
_asheet _bnb _2rdacarrier |
||
999 |
_c1744365 _d1744365 |
||
084 |
_a6П2.151.8(075.1) _2tbk |