000 | 01316nam a2200313u##4500 | ||
---|---|---|---|
001 | genk/76775 | ||
003 | POUNB | ||
005 | 20240110025439.0 | ||
020 | _c0.95 крб., тираж 20000 | ||
040 |
_aПОУНБ _bukr |
||
041 | _aukr | ||
044 | _aUA | ||
100 | 1 |
_aАронов,В. Л. _qВадим Львович _4aut |
|
245 | 0 | 0 |
_aИспытание и исследование полупроводниковых приборов _bучебное пособие для вузов по специальностям полупроводниковой техники _cВ. Л. Аронов, Я. А. Федотов |
260 |
_aМ. _bВысшая школа _c1975 |
||
300 |
_a325 с.: _bчерт. |
||
504 | _aБиблиогр.: с. 320-322 (36 назв.) | ||
650 | 0 | 4 |
_aПолупроводниковые приборы _xИспытание на надежность |
650 | 0 | 4 |
_aПолупроводниковые приборы _xПараметры |
084 |
_a47 _2rugasnti |
||
700 | 1 |
_aФедотов,Я. А. _qЯков Андреевич _4aut |
|
942 | _cBOOK | ||
090 | _xА 845 | ||
991 |
_bgenk _c6П2.151.8/А 84-977043 |
||
336 |
_atext _btxt _2rdacontent |
||
337 |
_aunmediated _bn _2rdamedia |
||
338 |
_asheet _bnb _2rdacarrier |
||
999 |
_c1610224 _d1610224 |
||
084 |
_a6П2.151.8 _2tbk |