000 01316nam a2200313u##4500
001 genk/76775
003 POUNB
005 20240110025439.0
020 _c0.95 крб., тираж 20000
040 _aПОУНБ
_bukr
041 _aukr
044 _aUA
100 1 _aАронов,В. Л.
_qВадим Львович
_4aut
245 0 0 _aИспытание и исследование полупроводниковых приборов
_bучебное пособие для вузов по специальностям полупроводниковой техники
_cВ. Л. Аронов, Я. А. Федотов
260 _aМ.
_bВысшая школа
_c1975
300 _a325 с.:
_bчерт.
504 _aБиблиогр.: с. 320-322 (36 назв.)
650 0 4 _aПолупроводниковые приборы
_xИспытание на надежность
650 0 4 _aПолупроводниковые приборы
_xПараметры
084 _a47
_2rugasnti
700 1 _aФедотов,Я. А.
_qЯков Андреевич
_4aut
942 _cBOOK
090 _xА 845
991 _bgenk
_c6П2.151.8/А 84-977043
336 _atext
_btxt
_2rdacontent
337 _aunmediated
_bn
_2rdamedia
338 _asheet
_bnb
_2rdacarrier
999 _c1610224
_d1610224
084 _a6П2.151.8
_2tbk