TY  - BOOK
AU  - Криштал,М.М.
AU  - Ясников,И.С.
AU  - Полунин,В.И.
AU  - Филатов,А.М.
TI  - Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие для студентов вузов
SN  - 9785948362007
PY  - 2009///
CY  - М.
PB  - Техносфера
ER  -