Э 172       Эгертон,Р. Ф.

Физические принципы электронной микроскопии введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию : пер. с англ. Р. Ф. Эгертон — М. Техносфера 2010 — 300 с.: ил.+ 1 л. ил. с. ISBN:  9785948362540