Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения учебное пособие для студентов вузов М. М. Криштал [и др.]

Інтелектуальна відповідальність: Вид матеріалу: Текст Текст Мова: російська Серія: Мир физики и техникиПублікація: М. Техносфера 2009Опис: 207 сТип вмісту:
  • текст
Тип засобу:
  • прямий доступ
Тип носія:
  • аркуш
ISBN:
  • 9785948362007
Інша класифікація:
  • 32.85
Мітки з цієї бібліотеки: Немає міток з цієї бібліотеки для цієї назви. Ввійдіть, щоб додавати мітки.
Оцінки зірочками
    Середня оцінка: 0.0 (0 голос.)
Фонди
Тип одиниці зберігання Поточна бібліотека Шифр зберігання Стан Очікується на дату Штрих-код
Книга, брошура Відділ документів технічних та природничих наук (читальний зал) Доступно 10099041